稳定同位素怎么测:IRMS 与 MC-ICP-MS 原理、区别与选型

同位素比值分析主要有两大平台:气体源同位素比值质谱(IRMS,常与元素分析仪联用为 EA-IRMS)与多接收电感耦合等离子体质谱(MC-ICP-MS)。 两者的电离方式、适用元素与前处理都不同,选错平台会直接影响能不能测、精度够不够。本文梳理两者的原理、分工与选型逻辑,供研究设计与送检参考。

一、IRMS:轻稳定同位素的经典平台

IRMS 采用气体离子源(电子轰击电离)。样品需先经化学转化为简单气体——燃烧/裂解成 CO₂、N₂、SO₂、H₂、CO 等,再进质谱按质荷比分离、由多个法拉第杯同时接收, 测出如 ¹³C/¹²C、¹⁵N/¹⁴N、³⁴S/³²S、²H/¹H、¹⁸O/¹⁶O 的比值,以 δ 值相对国际参考标准报告(碳→VPDB、氮→AIR、硫→VCDT、氢氧→VSMOW)。 与元素分析仪联用即 EA-IRMS,适合固体有机/无机样的批量 C、N、S 同位素分析。

  • 适用元素:传统轻稳定同位素 H、C、N、O、S。
  • 前处理:须把待测元素定量转化为气体(燃烧/在线裂解),不同同位素体系一般分别单独测定。
  • 校正:δ 记法 + 用国际标准物质做标准化/校准曲线外部校正。
  • 样品量:相对较大(较 ICP-MS 更耗样)。

二、MC-ICP-MS:金属与重同位素的高精度平台

MC-ICP-MS 采用高温等离子体离子源,电离效率极高,能把 IRMS 的燃烧路线难以电离的金属与类金属也电离为离子; 配双聚焦质量分析器(Nier-Johnson 几何)与一排法拉第杯,多接收器同时测量各离子束,因而比单接收 ICP-MS 精度显著更高。 它是 ⁸⁷Sr/⁸⁶Sr、Pb、Fe、Cu、Zn、Ca 等金属/放射成因同位素体系的主力平台,样品用量通常更小、可做痕量。

  • 适用元素:金属与类金属、放射成因及非传统稳定同位素(Sr、Pb、Fe、Cu、Zn、Ca 等)。
  • 前处理:一般需化学纯化/柱分离目标元素以消除基质与同量异位素干扰。
  • 校正:仪器质量歧视(mass bias)用标准–样品交叉法(standard-sample bracketing)等校正。
  • 样品量:通常小于 IRMS、可做痕量(如硫同位素测定,MC-ICP-MS 所需硫量通常更少,具体视方法而定)。

三、两平台对照与选型

维度EA-IRMSMC-ICP-MS
离子源气体源(电子轰击电离)电感耦合等离子体(高电离效率)
擅长元素轻稳定同位素 H·C·N·O·S金属/类金属·放射成因·非传统稳定同位素 Sr·Pb·Fe·Cu·Zn·Ca
前处理定量转化为气体(燃烧/裂解)化学纯化/柱分离目标元素
质量歧视校正δ 记法 + 国际标准外部校正/校准曲线标准–样品交叉法等
样品量相对较大通常更小、可痕量
多元素有限,分体系单独测覆盖多种金属体系

选型逻辑:测 H、C、N、O 的传统轻同位素→选 EA-IRMS;测 Sr、Pb 等金属/放射成因同位素→选 MC-ICP-MS。 硫处于两者边界:EA-IRMS 可测 δ³⁴S,MC-ICP-MS 在样品量极少或需痕量时更有优势。实际以目标元素、精度要求与可得样品量共同决定。

四、核素科技的平台配置

核素科技同时具备 EA-IRMS 与 MC-ICP-MS 两条线:前者承接 δ¹³C、δ¹⁵N、δ³⁴S、δ²H/δ¹⁸O 等轻稳定同位素检测, 后者承接 ⁸⁷Sr/⁸⁶Sr、Pb 等金属同位素检测,可覆盖从食品溯源、生态、环境到地质的多元研究需求。 具体项目、精度指标与送样量请与技术顾问确认。

常见问题

IRMS 和 MC-ICP-MS 有什么区别,分别测什么?

IRMS 是气体源同位素比值质谱,样品先燃烧/裂解转化为 CO₂、N₂、SO₂、H₂、CO 等简单气体再电离测定,擅长传统轻稳定同位素 H、C、N、O、S,以 δ 值相对国际标准(VPDB/AIR/VCDT/VSMOW)报告;与元素分析仪联用即 EA-IRMS。MC-ICP-MS 用高温等离子体电离,电离效率高、能电离金属与类金属,配多接收器同时测量,擅长 Sr、Pb、Fe、Cu、Zn、Ca 等金属/放射成因同位素,精度高、样品量小。选哪种主要由目标元素决定。

为什么金属同位素(如 Sr、Pb)不用 IRMS 测?

IRMS 的气体源需先把待测元素定量转化为简单气体,而金属元素难以用这种燃烧/裂解路线转化并高效电离;MC-ICP-MS 的等离子体源电离效率极高,可将金属与类金属电离为离子,因此 ⁸⁷Sr/⁸⁶Sr、Pb 等金属与放射成因同位素体系以 MC-ICP-MS 为主力平台。

硫同位素 δ³⁴S 用哪种测?

硫处于两平台边界,两者都能测。EA-IRMS 将硫燃烧为 SO₂ 测 δ³⁴S,适合常规批量;当样品含硫量很少或需痕量分析时,MC-ICP-MS 所需硫量通常更少、更有优势,具体视方法而定。

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首次发布:2026-07-16